工业X射线探伤时为什么会出现残影

作者：道青科技 │ 发表时间：2023/4/21 11:09:54

工业X射线数字成像检测时残影时常会遇到图像软件显示界面有残影，是因为在工业X射线检测过程中，X射线穿透被检测物体时，相对密度不同的区域会对X射线有不同的吸收能力，产生不同的灰度值。然而，在另一些地方，X射线被反射，散射或折射，并在其他位置的探测器上形成残影。这是由于X射线在物质中传播时的能量丢失和散射造成的。因此，必须通过准确控制系统参数和检测程序来最小化残影并提高检测精度。为了有效避免工业X射线探伤中的残影，可以采取以下措施：
1. 控制光源与样品的距离，使X射线射向样品时夹角尽可能小，从而减小光源与样品之间的散射。
2. 采用适当的辐射防护措施，减少X射线的漏散，避免重复照射同一位置。
3. 调整探测器的灵敏度，使其仅仅检测到第一次照射产生的信号，而不是残留的信号。
4. 通过调整光源、样品和探测器的相对位置，减小残留信号的影响。
5. 在实际操作中，应尽量确保X射线的照射方向与探测器的接收方向垂直，以减少散射和吸收路径对图像的影响。
需要注意的是，对于一些材料，由于其内部结构比较复杂，可能需要重复照射多次才能得到准确的探伤图像，因此应采取相应的措施来避免产生残影。

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