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工业探伤机和安检机对X射线源和平板探测器的不同要求
作者:道青科技网络部
时间:2025-01-09

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工业探伤机和安检机在X射线源和平板探测器上的要求有所不同,主要体现在以下几个方面:

X射线源

  1. 工业探伤机:

  • 要求X射线发射器稳定且可调,发射的X射线强度、波长等参数应在规定范围内,以满足不同材料和厚度的工件检测需求。

  • 通常需要更高的X射线能量和穿透力,以便能够检测到工件内部的缺陷。

  2. 安检机:

  • 采用微剂量的X射线源,且不常连续发射,以确保被检物和工作人员的安全。

  • X射线源的强度通常较低,主要用于穿透被检物并成像,以便安检人员观察和分析。

工业探伤机.jpg

平板探测器

  1. 工业探伤机:

  • 要求具有高灵敏度、低噪声,能快速而准确地捕捉和转换X射线信号,以便检测到工件内部的微小缺陷。

  • 探测器的尺寸和分辨率通常根据具体的检测需求进行定制,以适应不同工件和检测标准。

  2. 安检机:

  • 平板探测器主要用于接收X射线穿透被检物后的信号,并将其转换为可见的图像。

  • 探测器的性能要求相对较低,但需要具有足够的分辨率和清晰度,以便安检人员能够准确识别被检物中的危险物品。

综上所述,工业探伤机和安检机在X射线源和平板探测器上的要求因应用场景和检测需求的不同而有所差异。